岗位描述
岗位职责
1.负责芯片后端测试设计,包括scan、MemoryBIST/BISR、JTAG、BoundaryScan等;
2.进行DFT设计方法学的研究,优化芯片测试方法及流程;
3.参与scan及MemoryBIST/BISR集成等工具的自动化及自主研发。
岗位要求
1.本科及以上学历,要求3年以上DFT工作经验;
2.精通各类DFT设计方法,如JTAG,ATPG,Scan,MemoryBIST,faultmodel等;
3.熟悉形式验证,能进行pre-DFT和post-DFT的逻辑比对;
4.熟练运用tcl/tk或perl脚本语言,熟悉Linux/Unix环境shell语言;
5.必要集成电路专业技能:verilog/VHDL/RTL编写和VCS工具运用等;
6.支持ATE测试,有芯片量产测试相关经验者优先;
7.具有独立工作和快速的学习能力,较强的团队协作、沟通能力和工作主动性。