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封装缺陷检测与改善主任工程师-Packaging Defect Metrology and Improvement Staff Engineer(J21550)

  • 社招
  • 合肥
  • 质量安全
  • 发布于 2026-10-22
原岗位链接 ↗

岗位描述

岗位职责
1.缺陷检测平台搭建与优化:主导封装产线缺陷检测系统的选型、验收与能力建设,覆盖光学显微、扫描电镜及自动光学检测等主流手段,建立满足封装(2.5D/3D)技术节点的检测能力基线;
2.检测工艺开发与窗口固化:主导缺陷检测工艺参数的DOE设计与灵敏度优化,系统分析检测光源、分辨率、扫描策略等对缺陷捕捉率与误报率的影响,确定并固化可量产复现的检测方案;
3.缺陷分析与改善闭环:主导重大缺陷的根因定位与分类统计,协同工艺、整合及设备团队推动缺陷改善,建立“检测-分析-改善-监控”的闭环机制,支撑产品良率与工艺能力持续提升;
4.标准建立与数据沉淀:主导缺陷判定标准、检测作业规范及缺陷图谱库的搭建与迭代,运用统计分析方法输出产能与质量平衡的优化建议;
前沿技术预研与导入:对标业界封装缺陷检测技术(如高分辨率X射线、红外、超声等),主导评估新型检测设备与算法,前瞻储备下一代检测方案。

岗位要求
1.教育背景与专业知识:博士学历,微电子/物理/光学/材料/电子工程等专业,具备扎实的半导体物理与光学检测原理知识;
2.专业技能与资格:能使用光学显微、扫描电镜、自动光学检测等设备完成缺陷识别与参数设定,具备DOE实验设计与数据分析能力,能使用Klarity、SpotFire等数据分析软件完成缺陷分类与归因分析,能阅读英文技术文献;
3.行业与专业经验:1年以上半导体封装或晶圆制造缺陷检测与改善相关经验,具备2.5D/3D、CSP、WLCSP等封装检测经历者优先;
4.项目/任务成果:主导或作为核心成员完成至少1个缺陷检测能力建设或缺陷改善专项,具备可量化的检测灵敏度提升、捕获率改善或良率提升成果;
5.其他要求:具有系统性分析与跨部门协作能力,能推动工艺、整合、设备等多团队闭环复杂缺陷问题,工作严谨细致,具有自驱学习与技术创新意识。

质量安全方向的申请准备

先核对岗位要求与自己的经历,再准备档案、投递和面试。

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