岗位描述
岗位职责
1. DFT架构设计与实现: 主导DFT架构设计与实现,包括MBIST、Boundary Scan、Repair、链路测试,以及3D堆叠结构下的可测试性设计;
2. 测试覆盖率与良率优化: 优化测试方法提升测试覆盖,分析fail log定位失效模式,推动良率提升并闭环问题;
3. 量产测试支持: 协同测试团队完成Test pattern开发及测试时间优化,支持silicon bring-up、debug和量产导入;
4. 跨团队协作: 与设计、工艺、封装、测试团队紧密合作,对齐测试需求并推动问题闭环;
5. 前沿测试方法研究: 研究Low-power test、High-speed IO DFX、3D IC test等新技术,推动测试方法持续迭代。
岗位要求
1. 教育背景与专业知识:本科或硕士及以上学历,微电子/集成电路/电子工程/计算机工程等相关专业;
2. 专业技能与资格:熟悉DFT方法学,包括Scan、ATPG、MBIST、JTAG、Boundary Scan,熟悉测试覆盖率模型;
2. 能使用EDA工具(Virtuoso、Finesim等)完成设计验证;
3. 行业与专业经验:3年以上DFT设计经验,具备存储芯片或DFT相关经验者优先;
3. 具备量产与ATE测试经验,熟悉Advantest或Teradyne测试平台;
4. 项目/任务成果:主导过至少一款芯片的DFT设计到量产导入的完整流程,具备基于fail data进行root cause分析的能力;
5. 其他要求:具有Debug与问题分析能力,熟悉silicon debug流程,能推动跨团队协作与问题闭环。